La caja de experimentos de circuito digital es el instrumento de enseñanza de experimentos electrónicos básicos, el modelo de capacitación de experimentos digitales se desarrolla en base al curso de capacitación en tecnología electrónica en escuelas vocacionales, universidades y facultades de ingeniería, etc.
Configuración
El sistema de experimento de circuito digital DLDZ-SD301 se compone de un conector de alimentación, una unidad de circuito general, una unidad de circuito común, una placa de pruebas y un zócalo IC (bloqueo). El circuito común incluye pantalla LED de código 8421BCD, LED de 1 bit, circuito de reloj, circuito de pulso único manual, generador de pulso continuo ajustable, interruptor de visualización de nivel de sistema binario de 10 bits, interruptor de entrada de nivel de década, lápiz lógico y potenciómetro, etc.
Proyectos de formación
- Experimento de carácter de interruptor de transistor electrónico, limitador y fijador.
- Experimento de prueba de parámetros del circuito de puerta lógica de integración TTL
- Experimento de prueba de parámetros del circuito de puerta lógica de integración CMOS
- Experimento de función y prueba lógica del circuito de puerta
- Experimento de circuito lógico combinacional (medio sumador, sumador completo y operación lógica)
- Experimento de entrenamiento del disparador R-S、D、J-K
- Experimento de disparador y pestillo de salida de tres estados
- Entrenamiento del experimento del circuito de conversión A/D, D/A
- Entrenamiento de la prueba del circuito de Secuencia
- Capacitación de aplicación de mostrador y registro.
- Capacitación de Decodificador y aplicación selector de fecha
- Demostración de aparición de forma de onda y disparador monoestable
- Demostración del uso del circuito de compuerta que produce una señal de pulso: multivibrador de funcionamiento libre
- Demostración del disparador monoestable y del disparador Schmitt: retardo de pulso y circuito de conformación de ondas
- Carácter de interruptor de transistor, limitador y abrazadera
- Prueba de parámetros del circuito de puerta lógica de integración TTL
- Prueba de parámetros del circuito de puerta lógica de integración CMOS
- Función y prueba de lógica del circuito de puerta